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涂层测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 涂层测厚仪
产品型号: 2042
产品展商: 德国卡尔德意志
简单介绍:
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。

涂层测厚仪的详细介绍

可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
 
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
 
 
  随机附送仪器箱
(仪器的举例)
  特点概述
 
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项
出厂时已校准,立即可用
在未知涂层上校准*
零校准*
在无涂层的基体上一点和多点校准*
在有涂层的基体上校准*
 
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
 
可选择的显示模式,以**形式去完成测量任务*
输入和极限监视*
Windows下有简单的存储读数档案管理*
可用的电脑软件STATWIN 2002EasyExport
统计*
 
可统计评估999个读数
最小值、较大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头   * 取决于配置级别
  3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 20423种配置级别
 
基本型 – 证明质量的基本特征
高级型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储
   
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

这里有操作指南和制定模块的参考说明。


 
 
  通过解锁代码可以很方便的升级
(证书举例)
  举例:仪器上的用户界面图像
选择菜单项目(例如:语言清单)
 
A 语言清单
B 卷轴条作为导航辅助
     
清晰的统计读数值和当前测量值
 
C 基体
D 当前测量值
E “可以测量”提示
F 单位
G 最小值和较大值
H 标准偏离
I 平均值
K 测量值数量
     
电脑读数也被存储在目录和文件中
 
L 显示读数的文件符号
M 可自由选择的文件名
N 卷轴条作为导航辅助
     
  多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。
 
  探头类型 测量方法 测量范围 订货号

标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方 Fe 0 - 3000 祄 2442.100
标准探头 NFe 0?/font> NFe 0 - 1000 祄 2442.130
标准探头 NFe S 0?/font> NFe 0 - 3750 祄 2442.140
标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度 Fe 0.5 - 20 mm 2442.120
标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位,例如:管子的内部 Fe 0 - 3000 祄 2442.110
双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如:管子的内部涂层. Fe 0.5 - 12.5 mm 2442.200
微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:钻孔的底部 FeNFe 0 - 500 祄 2442.300
2442.310
微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位 FeNFe 0 - 500 祄 2442.320
2442.330
微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:管子的内壁和钻孔 FeNFe 0 - 500 祄 2442.340
2442.350
注:点击单独的探头图片,可以得到更多详细信息        

  技术资料
数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量个数值
存储: 最多 9999 个数值,140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
  附件
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里
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