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卡尔德意志
产品[
涂层测厚仪
]资料
点击看大图
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
涂层测厚仪
产品型号:
2042
产品展商:
德国卡尔德意志
简单介绍:
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
涂层测厚仪
的详细介绍
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042
利用磁感应法
(DIN EN ISO 2178)
测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法
(DIN EN ISO 2360)
测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似
WINDOWS
一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042
是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作
100
小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
随机附送仪器箱
(仪器的举例)
特点概述
大图解屏幕
48 mm x 24 mm
, 有背景灯
校准选项
出厂时已校准,立即可用
在未知涂层上校准*
零校准*
在无涂层的基体上一点和多点校准*
在有涂层的基体上校准*
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
可选择的显示模式,以*佳形式去完成测量任务*
输入和极限监视*
在
Windows
下有简单的存储读数档案管理*
可用的电脑软件
STATWIN 2002
和
EasyExport
统计*
可统计评估
999
个读数
*小值、*大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度
(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042
带有
45°
微型探头
* 取决于配置级别
3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 2042
有
3
种配置级别
基本型
– 证明质量的基本特征
**型
- 附加统计评估
专业型
- 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为**型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
这里有操作指南和制定模块的参考说明。
通过解锁代码可以很方便的升级
(证书举例)
举例:仪器上的用户界面图像
选择菜单项目(例如:语言清单)
A
语言清单
B
卷轴条作为导航辅助
清晰的统计读数值和当前测量值
C
基体
D
当前测量值
E
“可以测量”提示
F
单位
G
*小值和*大值
H
标准偏离
I
平均值
K
测量值数量
电脑读数也被存储在目录和文件中
L
显示读数的文件符号
M
可自由选择的文件名
N
卷轴条作为导航辅助
多样的探头
多样的外部探头使
LEPTOSKOP 2042
在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是
20mm
也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。
探头类型
测量方法
测量范围
订货号
标准探头
Fe 0?br>
用于在宽阔的、容易测量的地方
Fe
0 - 3000 祄
2442.100
标准探头
NFe 0?/font>
NFe
0 - 1000 祄
2442.130
标准探头
NFe S 0?/font>
NFe
0 - 3750 祄
2442.140
标准探头
Fe S 0?br>
用于测量表面有宽阔的涂层厚度
Fe
0.5 - 20 mm
2442.120
标准探头
Fe 90?br>
用于测量难接近的部位,例如:管子的内部
Fe
0 - 3000 祄
2442.110
双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如:管子的内部涂层.
Fe
0.5 - 12.5 mm
2442.200
微型探头
0?
用于测量小尺寸和难接近的部位例如:钻孔的底部
FeNFe
0 - 500 祄
2442.300
2442.310
微型探头
45?
用于测量小尺寸和难接近的部位
FeNFe
0 - 500 祄
2442.320
2442.330
微型探头
90?
用于测量小尺寸和难接近的部位例如:管子的内壁和钻孔
FeNFe
0 - 500 祄
2442.340
2442.350
注:点击单独的探头图片,可以得到更多详细信息
技术资料
数据传输接口
RS232
或
USB
电源:电池、充电电池、
USB
或外接电源
测量范围:
0 - 20000 um
(取决于探头)
测量速度: 每秒测量
2
个数值
存储: *多
9999
个数值,
140
个文件
误差:
涂层厚度
< 100
祄:
1 %
的数值 +/- 1 祄 (校准后)
涂层厚度
> 100
祄:
1..3
% 的数值 +/- 1 祄
涂层厚度
> 1000
祄:
3..5 %
的数值 +/- 10 祄
涂层厚度
> 10000
祄:
5 %
的数值 +/- 100 祄
附件
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件
STATWIN 2002
用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件
EasyExport
用于把单独的杜说或全部文件传输到
Windows
程序里
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