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涂层测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 涂层测厚仪
产品型号: PC-LEPTOSKOP 2050
产品展商: 德国卡尔德意志
简单介绍:
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。 当启动statwin 2002时,一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 所有功能操作只需点击一下鼠标或键盘。 STATWIN 2002用statwin 2002

涂层测厚仪 的详细介绍


PC-LEPTOSKOP 2050
应用实例为
PC-leptoskop 2050
笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002 ,
电脑微型探头和定位装置
 
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。
当启动statwin 2002时,一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 所有功能操作只需点击一下鼠标或键盘。 STATWIN 2002用statwin 2002 ,可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。 文件和归档几乎是无限的。 此外,该软件附带了大量的统计功能,可以实现测量评估和批次。

除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度(如钢铁上的漆层或铬层)和导电材料上的非导电层涂层的厚度(如非铁金属上的漆层) ,测量范围到1200 μ m的标准探头,我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头,双晶探头可测量厚度高达12.5mm,我们同时还提供完整的配件。
为固定测试有特别的设计, PC-leptoskop 2050是一个一流的膜层测厚仪。

 
订货信息
STATWIN 2002 电脑软件          2904.001 
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0
 
探头,测量范围和订货号
 
探头
 
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