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膜厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 膜厚仪
产品型号: HS(TT)2100/3100/4100
产品展商: 其它品牌
简单介绍:
本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。

膜厚仪的详细介绍

适用范围： HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
主要功能： 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；
三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准；
显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm）
1μm （测量范围大于100μm）
有两种工作方式：直接方式和成组方式
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
测量范围： （1）F400探头、N400探头：0—400μm
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm
（3）F10探头：0—10000μm
（4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头）
测量精度： 不同探头精度要求不同
（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）
（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10）
使用温度： 0～40℃
外型尺寸： 150×80×30m
重 量： 250g
功能
HS2100F
HS2100N
HS3100
HS4100
测量原理
磁性
涡流
磁性/涡流
磁性/涡流
测量范围
标准配置探头（F1/N1)：1～1250μm
测量精度
±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）
统计量
平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV)
存贮和统计
15个测量值
测量精度
±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）
零点校准
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二点校准
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删除功能
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自动关机
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蜂鸣声提示
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测量方式
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欠压指示
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错误提示
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标准配置
主机
F1探头
基体
校准片
说明书
包装箱
主机
N1探头
基体
校准片
说明书
包装箱
主机
F1(N1)探头
基体
校准片
说明书
包装箱
主机
打印机
F1(N1)探头
基体
校准片
说明书
包装箱
选配件
F1、F400、F10测头
N1、N400测头
通讯软件
F1、F400、F10测头
N1、N400测头
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