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上等无损检测技术资格人员超声检测培训复习题汇编

 

上等无损检测技术资格人员

超声检测培训复习题汇编

 夏纪真

目    录
 是非判断题
 问答题
 选择题
 计算题


 一、是非判断题(在每题后面括号内打"X"号表示"错误",画"○"表示正确)
1.超声波检测中应用的所谓板波,实际是在薄板中产生的一种表面波(X)
2.超声波检测中应用的所谓板波,实际是在中厚板或厚板中产生的一种特殊波型(X)
3.超声波检测中应用的所谓板波,只能适用于厚度与波长相当的薄板(0)
4.超声波检测中应用的所谓板波,实际是在厚板或中厚板中产生的一种表面波(X)
5.超声波在某一给定的无限大介质中传播时,质点振动速度就是声速(X)
6.超声波在某一给定的无限大介质中传播时,质点振动速度与声速不是一回事(0)
7.超声波在某一给定的无限大介质中传播时,质点振动速度与声速实际上是一回事(X)
8.两束频率不同的声波在同一介质中传播时,如果相遇可产生干涉现象(0)
9.两束频率相同但行进方向相反的声波叠加可形成驻波(0)
10.在同一固体介质中,纵波,横波,瑞利波,兰姆波的传播速度均为常数(X)
11.由于在远场区超声波束会扩散,所以探伤应尽可能在近场区进行(X)
12.为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应小于被检试件中的纵波速度(0)
13.为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应大于被检试件中的纵波速度(X)
14.超声波在介质中传播时,声能的传播是由各质点的位移连续变化来传递的(0)
15.如材质相同,细钢棒(直径<λ=与钢锻件中的声速相同(X)
16.超声波垂直入射至钢/空气界面时,反射波和入射波可在钢中形成驻波(0)
17.只有当**介质为固体介质时,才会有第三临界角(0)
18.超声波从液体进入固体时也会出现第三临界角(X)
19.超声波从固体进入液体时有可能会出现第三临界角(0)
20..当试件内存在较大的内应力时,将使超声波的传播速度及方向发生变化(0)
21.焊缝斜角探伤时常采用液态耦合剂,说明横波可以通过液态介质薄层(X)
22.用接触法在试件中产生横波的方法,唯有利用透声斜楔使纵波倾斜入射到界面上(X)
23.在异质界面上,当横波折射角等于90°时的纵波入射角称为**临界角(X)
24.在异质界面上,当纵波折射角等于90°时的纵波入射角称为**临界角(0)
25.在异质界面上,当横波折射角等于90°时的纵波入射角称为**临界角(0)
26.目前应用于超声波检测的超声波波型**于纵波和横波(X)
27.可以认为,目前用超声波法确定内部缺陷真实尺寸的问题已经解决(X)
28.超声波检测法不能用于岩石材料(X)
29.目前*常用的超声波测厚仪利用的是连续波共振原理(X)
30.目前常用的超声波测厚仪利用的是超声连续波穿透法测厚(X)
31.目前一般的小型数字式超声波测厚仪其工作原理基于脉冲回波法(0)
32.目前一般的小型数字式超声波测厚仪其工作原理基于谐振法(X)
33.用共振式测厚仪测定声速的公式是:C=2fn(d/n),式中fn为共振频率,n为共振次数,d为试块厚度(0)
34.机械振动在弹性介质中的传播过程称为机械波,在振动过程中能量和质量交替向前传播(X)
35.形成球面波或柱面波的差别主要决定于波源的形状(0)
36.根据惠更斯定理,可以描绘出超声波探头发出的超声波在介质中的传播方向(0)
37.方形振子的远场计算公式是:N方=1.2D2/4λ(X)
38.聚焦探头的几何焦距f相对于同一晶片的非聚焦探头来说,f必定小于近场长度N(0)
39.聚焦探头的几何焦距f相对于同一晶片的非聚焦探头来说,f必定大于近场长度N(X)
40.聚焦探头的几何焦距f相对于同一晶片的非聚焦探头来说,f可以大于也可以小于近场长度N(X)
41.在钢中测定为某一折射角的斜探头,在铝中测定时其折射角变大(X)
42.在钢中测定为某一折射角的斜探头,在铝中测定时其折射角变小(0)
43.不锈钢堆焊层比基材钢的声阻抗大2%,在两者界面上的声压反射率为0.5%(X)
44.50°横波入射到端角时超声波能量反射*低,故应避免使用(X)
45.60°横波入射到端角时超声波能量反射*低,故应避免使用(0)
46.超声波探伤仪的脉冲重复频率越高,探伤频率也越高(X)
47.超声波探伤仪的脉冲重复频率与探伤频率不是一回事(0)
48.超声波探伤仪的脉冲重复频率与探伤频率是一回事(X)
49.确定探头扫查速度时不必考虑仪器的脉冲重复频率(X)
50.确定探头扫查速度时需要考虑仪器的脉冲重复频率(0)
51.任何探头电缆,只要是高频的,在任何情况下均可互换使用(X)
52.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过高(0)
53.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过低(X)
54.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减大的材料中脉冲重复频率选用过高(X)
55.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减大的材料中脉冲重复频率选用过高(X)
56.多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪(X)
57.数字化超声波探伤仪和模拟式超声波探伤仪是一回事(X)
58.超声波探伤仪中饱和放大器的输出电压与输入电压之间呈线性关系(X)
59.通用超声波探伤仪探头内装的是属于γ系列换能器(0)
60.现代超声波仪器中的底波衰减旋钮可用来监视工件底波变化(0)
61.B型显示的超声波仪器可测定缺陷至工件表面的距离(0)
62.频带越宽,脉冲越窄(0)
63.频带越窄,脉冲越宽(0)
64.超声波检测中,1.25MHz探头的分辨率比5MHz探头的分辨率差(0)
65.超声波检测中,1.25MHz探头的分辨率比5MHz探头的分辨率差(X)
66.超声波检测中,5MHz窄脉冲探头的分辨率比5MHz普通探头的分辨率高(0)
67.超声波检测中,10MHz探头的分辨率比5MHz探头的分辨率高(0)
68.当超声波声程大于3N时,如声程相同,若长横孔直径相差一倍时,则波高相差6dB(X)
69.当超声波声程大于3N时,如声程相同,若平底孔面积相差一倍,则波高相差12dB(X)
70.超声波检测仪是利用压电效应发射超声波的(X)
71.同一探头在钢中的近场N要比在水中的近场长(X)
72.相同直径的探头其工作频率高的指向性好(0)
73.质点振动三次所需要的时间,可以使超声波在介质中传播三个波长的距离(0)
74.超声波通过介质时,施加于介质表面的压强称为声压,它与声阻抗成正比,与质点振速成反比(X)
75.一般的超声波检测仪在有抑制作用的情况下其垂直线性必然变坏(0)
76.垂直通过单位面积的声能称为声强,它具有"功"的概念(X)
77.脉冲宽度大的仪器其频带宽度也大(X)
71.钢板超声波检测时,若无底波反射,则说明板中并无缺陷(X)
72.钢板超声波检测时,只要根据有无缺陷波反射,即可判断板中有无缺陷(X)
73.用板波法探测厚度5mm以下薄钢板时,不仅能检出内部缺陷,同时能检出表面缺陷(0)
74.用板波法探测厚度5mm以下薄钢板时,仅能检出表面缺陷,而内部缺陷须用其他方法检测(X)
75.钢管水浸聚焦法探伤时,不宜采用线聚焦探头探测较短缺陷(0)
76.钢管水浸聚焦法探伤时,不宜采用线聚焦探头探测较长缺陷(X)
77.钢管水浸聚焦法探伤时,为了提高检测效率,采用线聚焦探头就能保证检出所有缺陷(X)
78.管子壁厚t与外径D之比(t/D)>0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁(0)
79.管子壁厚t与外径D之比(t/D)<0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁(X)
80.在锻件的超声波检测中,有关缺陷的定性定量问题已经解决(X)
81.在超声波检测技术中,有关缺陷的定性定量问题已经解决(X)
82.调节锻件探伤灵敏度的底波法,其含义是锻件扫查过程中依据底波变化情况评定锻件质量等级(X)
83.探测根部未焊透缺陷时,一般不宜选用折射角为60°的斜探头(0)
84.探测根部未焊透缺陷时,一般不宜选用折射角为45°的斜探头(X)
85.探测根部未焊透缺陷时,一般不宜选用折射角为70°的斜探头(X)
86.用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果越好(X)
87.用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果越差(0)
88.用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越好(0)
89.用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越差(X)
90.对于表面下的缺陷,在合适条件下也可以考虑采用爬波进行检测(0)
91.在平整光滑表面,为获得*佳的声学耦合,施加于塑料保护膜探头的压力要比钢保护膜探头大(X)
92.对于粗糙表面,适宜选用塑料保护膜探头(0)
93.铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头(0)
94.铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是高频直探头或斜探头(X)
95.草状波在探测轴类锻件中出现的原因主要是钢材中晶粒粗大造成的(0)
96.圆柱形锻件可用底波作基准调节灵敏度的条件是:d≥3.7N(N-近场长度,d-工件直径)(0)
97.使用声学聚焦透镜能提高灵敏度和横向分辨率,但是减小了检测范围(0)
98.窄脉冲的超声波其穿透能力较小(0)
99.窄脉冲的超声波其穿透能力较大(X)
100.窄脉冲的超声波其分辨率较低(0)
101.窄脉冲的超声波其分辨率较高(0)
102.双晶纵波探头使用阶梯形试块调整仪器扫描线,但在测厚时必须在和被测厚度相同的阶梯上校正(0)
103.超声波检测大锻件时使用的重复频率比管子自动探伤时更高(X)
104.超声波仪器脉冲宽度增加时会增加工件侧面干扰(0)
105.超声波仪器的C型显示能展示工件中缺陷的长度和宽度,但不能展示其深度(0)
106.超声波仪器的B型显示能展示工件中缺陷沿探测方向截面的宽度和深度,但不能展示其探测方向上的长度(0)
107.超声波仪器的C型显示属于三维立体显示(X)
108.超声波仪器的B型显示属于二维显示(0)
109.在距离-振幅曲线上,横孔表现较平坦,平底孔较陡,球孔更陡(X)
110.轴类零件作超声波检测时,若遇到有游动讯号出现,则应认为轴的内部有危险性缺陷存在(X)
111.在接触法超声波检测中,应对工件检测面的表面光洁度提出要求,表面光洁度以尽量高为佳(0)
112.超声波检测仪器中的TCG装置(或DAC装置)是专门为了距离补偿而设置的(0)
113.目前较少采用横波直探头的原因是横波有探头传入工件困难(0)
114.按照经典理论,超声波检测方法所能检测的*小缺陷尺寸大约是二分之一波长(0)
115.对于一个尺寸小于0.8(λS)1/2(S为声程)的缺陷,其波高F与底波高度B的比值(F/B)随探头尺寸的增大而增大(X)
116.面状缺陷在焊缝超声波检测中应评为不合格(0)
117.传播于工件表面,质点振动方向与工件表面平行的横波称为"乐甫波"(0)
118.在超声波自动化检测中,必须考虑仪器重复频率对检验速度的影响(0)
119.当被检材料的晶粒尺寸大于1/10波长时,超声波的散射会影响试验结果(0)
120.在超声波检测中,如果使用的重复频率过高,在探测粗晶材料时会出现林状回波(X)
121.可以用电磁-声探伤法实现非接触式超声波检测,从而进一步提高超声波检测自动化程度(0)
122.采用纵波法检查钢板时,探头扫查移动方向以平行于钢板压延方向较好(X)
123.用直探头探测同一缺陷,探头直径增大时,缺陷波增高,底波高度也会增高(0)
124.用直探头在轴类锻件的圆周面上进行周向扫查时,只有径向缺陷才会产生游动信号(X)
125.由于铸件中的缺陷主要产生在浇冒口部位,因此在铸件的超声波检测中,检测的重点应放在浇冒口部位,其它部位可以不检查或做一般性检查(X)
126.管子超声波探伤必须采用水浸聚焦方法是因为管子曲率对超声波有散射作用(X)
127.焊缝中的裂纹都是在焊液冷却凝固过程中产生的,焊接终了之后就不会再发生,因此在焊缝冷却到室温时即可进行超声波检测(X)
128.即使使用带有缺陷自动报警装置和缺陷自动记录装置的超声波检测仪,在检测过程中探头移动速度也必须限制在一定范围内,不宜太快(0)
129.厚焊缝采用串列法扫查时,如焊缝余高磨平,则不存在死区。(X)
130.较薄钢板采用底波多次法探伤时,如出现"叠加效应",说明钢板中缺陷尺寸一定很大。(X)
131.当钢板中缺陷大于声束截面时,由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成"叠加效应"。(X)
132.采用双探头串列法扫查焊缝时,位于焊缝深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出现在荧光屏上同一位置。(0)
133.焊缝斜角探伤时,如采用直射法,也应该考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响(0)
134.由于探头折射角较大,在焊缝一侧用全跨距探伤,即可扫查到整个焊缝截面,因此没有必要从焊缝另一侧探伤(X)
135.用双晶直探头对平面工件探伤时,*好的操作方法是使隔声层垂直于探头扫查方向(0)
136.用双晶直探头对平面工件探伤时,*好的操作方法是使隔声层垂直于探头扫查方向(X)
137.用双晶直探头对平面工件探伤时,*好的操作方法是使隔声层与探头扫查方向呈45°夹角(X)
138.与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件作超声波检测时,通常使用频率较低的探头和粘度较高的耦合剂(0)
139.与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件作超声波检测时,通常使用频率较高的探头和粘度较低的耦合剂(X)
140.焊缝的超声波检测一般应在外观检查合格之后进行(0)
141.焊缝的超声波检测一般应在焊缝冷却至室温之后即可进行(X)
142.电渣焊的焊缝超声波检测一般应在正火处理之后进行(0)
143.电渣焊的焊缝的超声波检测在焊缝冷却至室温之后即可进行(X)
144.容易产生延迟裂纹的焊缝应在至少焊后24小时之后进行超声波检测(0)
145.选择焊缝探伤中的斜探头折射角时,为使整个焊缝截面不漏检,选用的折射角β必须满足tgβ≤(D+L)/T(式中:D-焊缝宽度;L-探头前沿长度;T-钢板厚度)(X)
146.选择焊缝探伤中的斜探头折射角时,为使整个焊缝截面不漏检,选用的折射角β必须满足tgβ≥(D+L)/T(式中:D-焊缝宽度;L-探头前沿长度;T-钢板厚度)(0)
147.在焊缝的超声波检测中,为了防止遇到垂直于底面的缺陷时回波声压太低,一般都尽可能避免使用折射角为30°的斜探头(X)
148.在焊缝的超声波检测中,为了防止遇到垂直于底面的缺陷时回波声压太低,一般都尽可能避免使用折射角为45°的斜探头(X)
149.在焊缝的超声波检测中,为了防止遇到垂直于底面的缺陷时回波声压太低,一般都尽可能避免使用折射角为60°的斜探头(0)
150.在焊缝的超声波检测中,为了防止遇到垂直于底面的缺陷时回波声压太低,一般都尽可能避免使用折射角为70°的斜探头(X)
151.使用窄脉冲宽频带探头可以提高近表面缺陷的探测能力(0)
152.使用TR探头可以提高近表面缺陷的探测能力(0)
153.提高探头频率,减小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力(0)
154.使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力(X)
155.使用TR探头不可以提高近表面缺陷的探测能力(X)
156.提高探头频率,减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力(X)
157.提高探头频率,增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力(X)
158.不同类型的缺陷对其回波高度的大小有很重要的影响(0)
159.缺陷中的内涵物对其回波高度大小有很重要的影响(0)
160.缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向,而在缺陷中的内涵物对其回波高度大小没有影响(X)
161.用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果偏大(0)
162.用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果偏小(X)
163.用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果与考虑材质衰减的缺陷定量结果相同(X)
164.用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减和考虑材质衰减的两种缺陷定量结果都在允许的误差范围以内(X)
165.在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次高(0)
166.在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次低(0)
167.管子的超声波检测只能采用水浸聚焦探伤方法,不宜采用斜探头接触法(X)
168.在锻件的超声波检测中,选择探测面的一个很重要的原则是:应尽可能使透入锻件的超声波传播方向与晶粒的变形方向相垂直(0)
169.在锻件的超声波检测中,选择探测面的一个很重要的原则是:应尽可能使透入锻件的超声波传播方向与晶粒的变形方向相平行(X)
170.在锻件的超声波检测中,选择探测面的一个很重要的原则是:应从互相垂直的两个方向上作****的扫查(0)
171.超声波在介质中传播时,声能的传播是由各质点的位移边连续变化来传递的。(0)
172.声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗无任何影响。(X)
173.压电晶片的压电应变常数(d33)大,则说明该晶片接收性能好(X)
174.压电晶片的压电电压常数(g33)大,则说明该晶片接收性能好(0)
175.探头中压电晶片背面加吸收块石为了提高机械品质因素Qm,减少机械损耗(X)
176.表面波在介质表面传播时,介质表面质点作椭圆运动,这种运动可视为纵向振动与横向振动的合成(0)
177.在板厚与波长相当的弹性薄板传播的波称为板波。根据质点振动方向的不同可将这种波分为SH波和兰姆波(0)
178.对称型兰姆波的特点是薄板中心质点作纵向振动,上下表面质点作椭圆运动,振动相位相反并对称于中心(0)
179.非对称型兰姆波的特点是薄板中心质点作横向振动,上下表面质点作椭圆运动,振动相位相同,不对称(0)
180.板波的波速是随频率不同而不同的,具有频散性质(0)
181.板波的波速与纵波、横波一样,在特定材料中有固定的波速(X)
182.板波的波速不随频率变化(X)
183.在一定材料中的纵波波速不随频率变化(0)
184.在一定材料中的纵波波速会随频率不同而变化(X)
185.超声波在介质中的传播过程,是能量传播过程,没有物质的迁移(0)
186.超声波在介质中传播时,其波长与声速成正比,与频率成反比(0)
187.表面波只能在固体表面传播,表面波的能量随传播深度增加而迅速减弱(0)
188.横波是波的传播方向与质点振动方向垂直的一种波动类型,只能在固体介质中传播(0)
189.波的传播方向称为波线,它恒垂直于波阵面(0)
190.波阵面为同心球面的波称为球面波,球面波各质点的振幅与距离成反比(0)
191.超声波探头中的波源近似活塞振动,在各向同性的介质中辐射的波称为活塞波。当距探头的距离足够远时,它类似于球面波(0)
192.超声波探伤中广泛采用的是脉冲波,脉冲波是波源振动持续时间很短,间歇辐射的波(0)
193.固体介质的弹性模量愈大,密度愈小,则纵波声速愈大(0)
194.在相同的声压下,材料的声阻抗愈大,质点振动速度就愈小,因此声阻抗表示超声场中介质对质点振动的阻碍作用(0)
195.超声波声场中,声压与超声波频率成正比,声强与声压平方成正比,与频率平方成正比(0)
196.超声波垂直入射到异质界面时,反射波和透过波的声能声强分配比例由声强反射率和声强透过率来表示,它仅与界面两侧介质的声阻抗有关(0)
197.超声波垂直入射到某界面,如**介质声阻抗远大于**介质声阻抗,则声压反射率趋于-1,透过率趋于0(0)
198.超声波垂直入射到异质界面时,声压往复透过率仅与界面两侧介质声阻抗有关,与入射方向无关(0)
199.超声波只有在斜射时才能在异质界面发生波型转换,并且至少一侧为固体(0)
200.超声波检测中,采用横轴表示实际声程,纵轴表示规则反射体相对波高的坐标曲线是描述距离、波幅、当量大小之间关系的曲线,又称实用AVG曲线,在调节探伤灵敏度和对缺陷定量中得到了广泛应用(0)
201.所谓声强,就是在单位时间内垂直通过单位面积的超声能量,它具有功的概念(0)
202.在异质界面上,当超声波纵波的折射角等于90℃时的纵波入射角称为**临界角(0)
203.在异质界面上,当超声波横波的折射角等于90℃时的纵波入射角称为**临界角(0)
204.在固-液界面上,当超声波纵波的折射角等于90℃时的横波入射角称为第三临界角(0)
205.在工业超声波检测中*常用的超声波波型有纵波,横波,表面波,板波(0)
206.超声波的波长由声速与频率求得,而声速则由材质和波的种类决定(0)
207.超声波检测中,5MHz探头的分辨率比10MHz探头的分辨率差(0)
208.当超声波声程大于3N时,如声程相同,若平底孔面积相差一倍,则波高相差6dB,若长横孔直径相差一倍时,则波高相差3dB(0)
209.在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的大小、取向与类型(0)
210.幻影波是由于在探测衰减小的材料,使用过高的重复频率,在检查大锻件时容易出现的情况(0)
211.超声波检测奥氏体焊缝的困难是粗晶导致衰减大,采取改进的方法有使用纵波探头、窄脉冲探头和均值法(0)
212.超声波探头中的吸收块所起的作用是抑制不需要的振动和吸收杂波,常用环氧树脂粉加钨粉制成(0)
213.超声波探头中的匹配吸收块(即阻尼块),其作用是阻尼晶片的振动使脉冲便窄,限制从晶片背面发射的声波,以防止出现杂波。探头若不加阻尼块,始脉冲应会变宽,盲区变大,分辩力降低(0)
214.用双晶直探头对平面工件探伤时,*好的操作方法是使隔声层垂直于探头扫查方向(0)
215.超声波检测用的探头中,置于压电晶片背面的阻尼块有三个基本作用,**是用于固定晶片位置,**是用于吸收晶片背面的超声波,第三是用于减少晶片持续振动时间,从而使得脉冲宽度变窄(0)
216.在利用实心轴上圆柱面底波按AVG方法校正探伤灵敏度时,轴的直径应不小于3.7N,通常可通过减小探头尺寸使之实现(0)
217.焊缝的超声波检测一般应在外观检查合格之后进行,电渣焊的焊缝应在正火处理之后进行,容易产生延迟裂纹的焊缝应在至少焊后24小时之后进行。(0)
218.在焊缝的超声波检测中,一般都尽可能避免使用折射角为60°的斜探头,因为使用这种探头在遇到垂直于底面的缺陷时,其回波声压甚低(0)
219.提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手:①用TR探头;②使用窄脉冲宽频带探头;③提高探头频率,减小晶片尺寸(0)
220.来自缺陷本身而影响缺陷回波高度的因素包括:①缺陷大小;②缺陷位置;③缺陷形状;④缺陷取向;⑤缺陷性质;⑥缺陷表面光滑度(平整度)等(0)
221.在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着侧壁干扰,所以探伤灵敏度会明显偏低(0)
222.在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次偏低(0)
223.在用AVG方法校正直探头的探伤灵敏度时,被选用的底面应满足以下要求:①应与探测面平行;②其表面应平整光洁;③探头离试件边缘的各向尺寸应≥4(λ·δ)1/2;④不与其他透声物质和吸声物质相接触(0)
224.管子的超声波检测一般都采用水浸聚焦探伤方法,但只要探伤灵敏度能满足要求,也可以采用斜探头接触法(0)
225.用直探头从端部探测直径为d的细棒状工件时,在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生波型变换所致,其迟到波间距对于钢材为0.76d(0)
226.根据回波高度和声场反射规律进行缺陷定量时,回波高度的测量应在仪器的抑制旋钮关闭以及增益微调旋钮不动的状态下进行(0)
227.超声波检测仪的动态范围应是回波幅度从100%下降至刚能辨认之*小值,一般指1%时,衰减器上读得的分贝调节量(0)
228.常用的聚焦探头使声束聚焦的方法有多种,例如:用带有曲率声透镜的平面晶片,在晶片前面放置带曲面的有机玻璃块曲面,把超声波投射到反射面上,使用两块以上按一定曲率半径放置的晶片等(0)
229.钢板的直探头探伤中,显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种,它们是:底波多次反射和缺陷的多次反射波同时出现、只有缺陷的多次反射波出现、只有一些紊乱的波(0)
230.钢板探伤的扫查方式有:**扫查、格子线扫查、列线(平行线)扫查、边缘扫查(0)
231.当管子的壁厚与外径之比大于0.2时,就无法使用纯横波进行周向探伤,一般推荐使用的探伤方法是:利用折射透入管壁的纵波射向外壁,再利用该壁反射超声波时产生的横波射向内壁,从而实现检查管子内、外壁缺陷的目的(0)
232.ASTMA609标准适用于碳钢和低合金钢的铸件超声波检测,标准中有关校正直探头探伤灵敏度使用的试块,规定其底部平底孔直径应为1/4英寸或6.35mm(0)
233.对于钢锻件来说,可以通过加大锻压比,降低终锻温度和采用热处理方法细化晶粒,减少超声波的传输衰减,但是细化晶粒的热处理方法不适用于奥氏体不锈钢(0)
234.在锻件的超声波检测中有两个选择探测面的原则经常被采纳使用,它们是:①应尽可能使透入锻件的超声波传播方向与晶粒的变形方向相垂直;②应从互相垂直的两个方向上作****的扫查(0)
235.超声波通过异质薄层时,声压反射率和透过率不仅与介质声阻抗和薄层声阻抗有关,而且与薄层厚度与波长之比有关。(0)
236.横波斜入射到异质界面,使纵波反射角为90时的横波入射角称为第三临界角,它的大小只与**介质的纵波声速和横波声速有关。(0)
237.超声波平面波入射到球界面时,凹球面上的反射波好像是从实焦点发出的球面波;凹球面上的反射波好像是从虚焦点发出的球面波。(0)
238.介质的散射衰减与频率、晶粒直径和各向异性系数有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时,常常选用较低的频率。(0)
239.固体介质中的脉冲波声场的近场区,其声压极值点数量较理想声场减少,且极大极小值幅度差异缩小。
240.斜探头横波声场近场区分布在两种介质中,近场长度随入射角的增大而缩短。(0)
241.B型显示探伤仪荧光屏的横坐标代表探头扫查轨迹,纵坐标代表声波传播时间。(0)
242.聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关,晶片直径大,波长短,焦距小,则焦点小。(0)
243.纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波低,远离侧壁探测时回波高。(0)
244.表面波探伤时,扫描速度调节一般是按声程调节时基线扫描比例(0)
245.利用板波对薄板探伤时,如发现端头信号前面有反射信号出现时,应用手拍打确定缺陷确切位置。(0)
246.用直探头对轴类锻件(直径为d)作轴向探测时,有时荧光屏上会出现迟到波。**次迟到波位于**次底波之后约0.76d处,以后各次迟到波间距相同。(0)
247.用直探头对轴类锻件(直径为d)作径向探测时,有时会出现三角反射波,两次三角反射波总是位于**次底波之后,声程分别为1.3d和1.67d(0)
248.对厚焊缝进行串列法探伤时,探头的移动方式分别为横方形和纵方形两种串列扫查形式(0)
249.目前,板厚3~8mm薄板焊缝的超声波探伤常采用焊缝宽度法,此法所用斜探头的声场应复盖整个焊缝截面。(0)
250.数字化超声波探伤仪和模拟式超声波探伤仪的根本区别在于通过模拟/数字转换把探头接收到的模拟信号转变成数字信号从而便于利用计算机技术进行处理(0)
 

二、. 问答题

1.超声场分为几个区域?各个区域的主要特征是什么?用示意图注明简述之

[提示]超声场是由声源发射超声振动的空间而形成特殊场,它可以根据超声在空间各部位声压大小不同,形象地用图示方法表示出来(如下图a):超声场分为近场和远场两大部份,其中主声束以锥体形状(犹如鲜花主瓣),近场区内主声束以外的称为副瓣。主声束的扩散角按零阶贝塞尔函数计算出其主瓣的锥角范围,即J1(X)=J1(kasinθ)J1(X)有很多根,其中*小的根为X0=3.83,则sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a) sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--晶片直径,a为半径],求出θ0值即为主瓣的扩散角(θ0),当用J2(X)J3(X)……分别求出**副瓣、**副瓣……的扩散角θ1θ2……等(如下图b),同样由sinθ=1.22(λ/D)求出,当S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N时,主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离(也可用二项式展开证明)(注:也有资料以1.67N为主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离)

 

2.试比较射线探伤与超声波探伤两种方法的适用范围和局限性

[提示]:应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较

3.何谓波的、干涉现象?什么情况下合成振幅*大?什么情况下合成振幅*小?

答:两列频率相同,振动方向相同,相位相同或相位差恒定的波相遇时,由于波叠加的结果,会使某些地方的振动始终互相加强,而另一些地方的振动始互相减弱或完全抵消,这种现象称为波的干涉,产生干涉现象的波称为相干波。相干波现象的产生是相干波传播到各点时波程不同所致。当波程差等于波长的整数倍时,合成振幅达*大值。当波程差等于半波长的奇数倍时,合成振幅达*小值。

4.何谓驻波?为什么通常取晶片厚度等于半波长?
答:两列振幅相同的相干波,在同一直线上相向传播时互相叠加而成的波,称为驻波。当介质厚度等于半波长整数倍时,会产生驻波。所以取晶片厚度可以形成驻波,产生共振,使合成振幅*大,有利于提高探头辐射超声波的效率。

5.什么是惠更斯原理?它有什么作用?

答:惠更斯原理:介质中波动传播到的各点都可以看到是发射子波的波源,其后任意时刻这些子波的包迹就是新的波阵面。利用惠更斯原理,可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象。

6.什么叫衰减?产生衰减的原因是什么?

答:超声波在介质中传播时,随着距离的增加,能量逐渐减小的现象叫做超声波的衰减。超声波衰减的原因主要有三个: 扩散衰减:超声波在传播中,由于声束的扩散,使能量逐渐分散,从而使单位面积内超声波的能量随着传播距离的增加而减小,导致声压和声强的减小。 散射衰减:当声波在传播过程中,遇到不同声阻抗的介质组成的界面时,将发生散乱反射(即散射),从而损耗声波能量,这种衰减叫散射衰减。散射主要在粗大晶粒(与波长相比)的界面上产生。由于晶粒排列不规则,声波在斜倾的界面上发生反射、折射及波型转换(统称散射),导致声波能量的损耗。 粘滞衰减:声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内壁摩擦,从而使一部分声能变为热能。同时,由于介质的热传导,介质的疏、密部分之间进行的热交换,也导致声能的损耗,这就是介质的吸收现象。由介质吸收引起的衰减叫做粘滞衰减。

7.什么叫超声波声场?反映超声波声场特征的重要物理量有哪几个?什么叫声压、声强、声阻抗?
答:充满超声波的空间,或者说传播超声波的空间范围叫做超声波声场。声压、声强、声阻抗是反映超声波声场特征的三个重要物理量,称为超声波声场的特征量。超声波声场中某一点在某一瞬间所具有的压强与没有超声波存在时,同一点的静态压强之差,称为声压。单位时间内穿过和超声波传播方向垂直的单位面积上的能量称为声强。介质中的任何一点的声压和该质点振动速度之比称为声阻抗。

8.超声波检测利用超声波的哪些特性?

答:超声波有良好的指向性,在超声波检测中,声源的尺寸一般都大于波长数倍以上,声束能集中在特定方向上,因此可按几何光学的原理判定缺陷位置。超声波在异质介面上将产生反射、折射、波型转换、利用这些特性,可以获得从缺陷等异质界面反射回来的反射波及不同波型,从而达到探伤的目的。超声波检测中,由于频率较高,固体中质点的振动是难以察觉的。因为声强与频率的平方成正比,所以超声波的能量比声波的能量大得多。超声波在固体中容易传播。在固体中超声波的散射程度取决于晶粒度与波长之比,当晶粒小于波长时,几乎没有散射。在固体中,超声波传输损失小,探测深度大。

9.在超声波反射法检测中为什么要使用脉冲波?

[提示]可使瞬时内发射能量很大,而总能量不大;可做时标用,测量超声波在工件中的传播时间,从而对缺陷进行定位;不是单色波,可克服缺陷厚度对超声波反射率与透过率的影响;可显著减少入射波与反射波之间干涉区的长度;从工程技术上比较容易制造出脉冲波的超声波检测仪

10.什么叫波的叠加原理?
答:波动的下述规律称为叠加原理:两列波在传播过程中相遇后仍然保持它们各自原有的特性(频率、波长、振幅等)不变,按照自己原来的传播方向继续前进;在相遇区域内,任意一点的振动为两列波所引起的振动的合成

11.什么叫波的绕射现象?

答:波在传播过程中遇到尺寸可以与波长向比拟的障碍物,或者一个大障碍物上尺寸可与波长比拟的小孔时,能绕过障碍物或穿过小孔继续传播,而不会在障碍物背面产生阴影的现象叫做波的绕射现象

12.说明超声波声场具体分为哪几个区域?

答:超声波声场具体分为四个区域:主声束和副瓣--声源正前方,声能*集中的锥形区域即为主声束,声源发射的声能主要集中在主声束。声束副瓣也称副声束,通常出现在邻近探头晶片的一个区域内,旁侧于主声束,其轴线倾斜于晶片表面,能量微弱,截面较小,晶片尺寸和波长之比的不同,副瓣的数量和辐射方向也不相同;近场--指主声束中心轴线上*后一个声压极大值处至晶片表面这一区域,近场长度用N表示,它取决于晶片的直径D(或面积AS)和波长λ,用公式N=(D2-λ2)/4λ≈AS/πλ表示。近场区邻近压电晶片,声压分布*不均匀,这是由于该区域内声波干涉现象*严重,因此近场区也称干涉区,干涉现象对探伤有很大影响,探伤时要尽量避免;远场--近场以外的区域称为远场。远场中各子波传播的距离已经很远,相位几乎相等,各量可以简单相加,声压值随距离增加而单调下降。远场区的大小由晶片尺寸、波长、介质的声学特性及激励晶片的电压决定,实质上即与超声波的发射功率以及传声介质特性相关;未扩散区--主声束横截面与声源直径相同之点至近场与远场分界点的一段区域称为未扩散区,该点至晶片表面的距离约为近场区长度的1.6倍,该区域中的平均声压可以看作常数,从该点开始,主声束扩散,形成锥体。

13.现有一合金材料(CL=2.3x106mm/sCS=1.63x106mm/s),用2.5MHz13x13 tgβ=2β=63.4°)(有机玻璃-钢)的斜探头,能否实现在该材料中的纯横波探伤?如果不能,请说明理由并提出应采取什么措施?
答:不能,因为不存在**临界角,合金材料中始终是纵、横波同时存在,解决的办法是使波型转换器(有机玻璃斜楔)的声速降到C1LC2L的情况,例如改用水楔,此时水-合金材料的**临界角为40°,只要水中入射角大于40°即可。

14.试从超声波前进方向的角度出发,广义地叙述超声波在界面上的行为。

答:广义地说,超声波在异质界面上的行为有反射、折射、波型转换或使超声波束发生收敛、发散、绕射及散射。

15.在下图中画出超声纵波从钛合金中以45°斜入射到钢中的反射与折射情况:
C
L=6150m/s  CS=3150m/s CL=5850m/s  CS=3200m/s(标准图形从略)

 

16.在平板对接焊缝的超声波检测中,为什么要用斜探头在焊缝两侧的母材表面上进行?
答:在焊缝母材两侧表面进行探测便于检出焊缝中各个方向的缺陷;便于使用一次、二次声程扫查整个焊缝截面,不会漏检;有些缺陷在一侧面发现后,可在另一侧面进行验证;一般母材表面光洁度比焊缝高,易于探头移动扫查,也可省去焊缝打磨的工作量
17.
在棒材圆周面上进行超声探伤时,**次底波与**次底波之间可见到有两个迟到波,如下图所示,请指出这两个迟到波各是什么波型?(前面为L-L-L,后面为L-S-L波)

18.如何提高近表面缺陷的探测能力?
[
提示]:提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手:TR探头;使用窄脉冲宽频带探头;提高探头频率,减小晶片尺寸
19.
画出下图中不同情况下声波的收敛或发散的情况:自左向右:发散 收敛 收敛 发散

20.将超声波直探头置于IIW1试块侧面上探测100mm距离的底波,如下图所示在**次底波与**次底波之间前两个迟到波各是什么波型?(前面为L-L-L,后面为L-S-L波)

 

21.脉冲反射探伤法对探头晶片有什么要求?
答:转换效率要高,尽可能降低转换损失,以获得较高的灵敏度,宜选用Kt(机电耦合系数)大的晶片。脉冲持续时间尽可能短,即在激励晶片后能迅速回复到静止状态,以获得较高的纵向分辩力和较小的盲区。要有好的波形,以获得好的频谱包迹。声阻抗适当,晶片与被检材料的声阻抗尽量接近,水浸法探伤时,晶片应尽量与水的声阻抗相近,以获得较高的灵敏度。高温探伤时,居里点温度要高。制造大尺寸(直径)探头时,应选择介电常数小的晶片。探头实际中心频率与名义频率之间误差小,频谱包络**峰。
22.
下图为CSK-IA试块示意图,试述其主要用途
[
提示]①用于超声波检测仪器和探头的组合性能测试;标定检测距离,测定斜探头的前沿距离和折射角;调节超声波检测仪的相对灵敏度等

23.为什么超声波检测仪上的衰减器精度用每12dB中的误差表示?
答:衰减器精度一般用标准平底孔试块进行测试,而平底孔孔径每增加一倍相差12dB,如Φ2mmΦ4mm在相同声程时其反射波高相差12dB,在制造技术上,因为在示波屏上反射波高按20log规律变化,即12dB=20log4,或-12dB=20log(1/4),即波形高度按1:44:1之比来测量,基于这两个原因,故测量衰减器误差按每12dB的误差表示,从而容易测量和容易比较(例如对于π形衰减器电路,虽然使用“12dB”没有多少方便之处,但作为超音波检测仪器的统一指标比较还是需要的),需要指出:在新型的超音波检测仪上对衰减器精度的衡量已采用每2dB中的误差表示。

24.下图为超声波水浸法纵波检测试件内部缺陷的示意图,试列举影响缺陷反射波高的诸因素(标准答案从略,考察应试者的系统分析能力)

 

25.简述A型超声波检测仪的工作过程
答:仪器的工作过程是:仪器的同步电路产生方波,同时触发发射电路、扫描电路和定位电路。发射电路被触发后,激发探头产生一个衰减很快的超音脉冲,这脉冲经耦合传送到工件内,遇到不同介质的界面时,产生回波。回波反射到探头后,被转换成电信号,仪器的接收电路对这些信号进行放大,并通过显示电路在荧光屏上显示出来。

26.焊缝超声波检测中,干扰回波产生的原因是什么?我们怎样判别干扰回波?

答:焊缝超声波检测中,由于焊缝几何形状复杂,由形状产生干扰回波,另一方面是由于超声波的扩散、波型转换和改变传播方向等引起干扰回波。判别干扰回波的主要方法是用计算和分析的方法寻找各种回波的发生源,从而得知哪些是由于形状和超声波本身的变化引起的假信号,通常用手指沾耦合剂敲打干扰回波发生源、作为验证焊缝形状引起假信号的辅助手段。

27.焊缝超声波检测中,有哪些主要的干扰回波?

答:焊缝超声波检测中,主要有以下8种干扰回波:加强层干扰回波。焊缝内部未焊透反射引起的干扰回波。单面焊衬板引起的干扰回波。焊缝错边引起的干扰回波。焊瘤引起的干扰回波。焊偏引起的干扰回波。焊缝表面沟槽引起的干扰回波。油层引起的干扰回波。

28.在超声波检测中常用的缺陷指示长度测量方法各有什么优缺点?
[
提示]缺陷指示长度测量方法可分为相对灵敏度法和优良灵敏度法:相对灵敏度法(即6dB10dB20dB法),优点是:耦合误差和衰减影响小;不受回波高度影响。缺点是:操作者主观因素对探伤结果影响较大;操作误差大,测量出来的指示长度可能大于缺陷长度;不能实现自动化探伤。优良灵敏度法,优点:主观性要求低,容易采用机械化;可以比较容易实现自动化探伤。缺点:表面接触误差大;回波高度影响大。

29.试述来自缺陷本身而影响缺陷回波高度的因素有哪些?

[提示]缺陷本身影响回波高度的因素有:缺陷大小;缺陷位置;缺陷形状;缺陷取向;缺陷性质;缺陷表面光滑度(平整度)等

30.如何选择焊缝探伤中的斜探头折射角?

答:为使整个焊缝截面不漏检,选用的折射角β必须满足tgβ≥(D+L)/T,式中:D-焊缝宽度;L-探头前沿长度;T-钢板厚度

31.当用前沿尺寸a=15mm的斜探头检查一条板厚T=18mm的平板对接焊缝时,在某个局部长度范围内遇到了焊宽D1=32mmD2=28mm,余高δ1=8mmδ2=8mm的情况(由补焊造成),将会发生什么问题?为了选择合适的折射角,应采取哪些措施?请说明理由。

答:因为补焊,使D1=32mmD2=28mm,焊缝加宽(加强层变大,δ=8mm),故为了不漏检必须增大探头折射角β,有两个措施:换用折射角β大些的探头,这里用tgβ=2.5较适宜;或者将原探头后部磨去一部分使折射角增大来解决这一问题

32.何谓三角反射波?它有什么特征?
答:用纵波直探头径向探测实心圆柱体锻件或棒材时,由于探头平面与柱面接触面小,声束扩散角增大,扩散声束可能会在圆柱面上形成三角反射路径,从而在荧光屏上特定位置出现反射波,这种波即称为三角反射波。三角反射波一般有二次,均出现在**次底波B1之后,且位置是固定的,一次是纵波扩散声束在圆柱面上不发生波形转换,形成等边三角形反射,如圆柱体直径为d,则这一反射波声程为1.3d;另一次是纵波扩散声束在一柱体面上发生波形转换,形成等腰三角形反射,其声程为1.67d

33.采用斜探头对对接焊缝进行超声波探伤时,平面型缺陷与非平面型缺陷的判别方法如何?(答案从略)

34.为什么反射法探伤采用脉冲超声波?(答案从略)

35.影响外曲率补偿系数的因素有哪些?除提高增益外还有哪些补偿办法?(答案从略)

36.用能量守恒或力的平衡观点证明:在异质界面上,声压透过率Tp等于1+Rp(声压反射率)是正确的 (答案从略)

37.请对GB/T3323-2005JB/T4730.3-2005这两个标准任选一个谈谈对其优缺点及改进意见的看法(答案从略)

38.为什么对接焊缝的超声波探伤一般都是在焊缝两侧的母材上用斜探头进行?
[
提示]在焊缝母材两侧表面进行探测便于检出焊缝中各个方向的缺陷;便于使用一次、二次声程扫查整个焊缝截面,不会漏检;有些缺陷在一侧面发现后,可在另一侧面进行验证;一般母材表面光洁度比焊缝高,易于探头移动扫查,也可省去焊缝打磨的工作量,故此,焊缝探伤都用斜探头在焊缝两侧的母材上表面进行

39.在什么情况下容易出现幻觉波(即残响效应)?如何加以识别?(答案从略)

40.试述脉冲反射式超声波探伤中影响缺陷回波高度的各种因素 (答案从略)

41.采取什么措施可以提高近表面缺陷的检测能力?
[
提示]:提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手:TR探头;使用窄脉冲宽频带探头;提高探头频率,减小晶片尺寸

42.试述相对灵敏度测长法及优良灵敏度测长法的优缺点
[
提示]缺陷指示长度测量方法可分为相对灵敏度法和优良灵敏度法:相对灵敏度法(即6dB10dB20dB法),优点是:耦合误差和衰减影响小;不受回波高度影响。缺点是:操作者主观因素对探伤结果影响较大;操作误差大,测量出来的指示长度可能大于缺陷长度;不能实现自动化探伤。优良灵敏度法,优点:主观性要求低,容易采用机械化;可以比较容易实现自动化探伤。缺点:表面接触误差大;回波高度影响大。

43.对焊缝而言,采用射线照相法与超声波检验法各有什么优缺点?(答案从略)

44.为什么在超声仪器性能评定中通常只要求测量电噪声电平,而不要求对电和声共同引起的噪声电平进行测量?
答:因为在超声探伤中,声噪声要在超声波的传播过程中才能产生,若用试块代替传播介质,由于目前还没有建立测量试块中声噪声的理想方法,因此采用不同的试块,可能会得到不同的测量结果,失去测量意义

 

 

 


 

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