中 华 人 民 共 和 国 航 空 工 业 部 部 标 准
HB 5358.2--86
航空制件Ｘ射线照相检验质量控制标准
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1引言
1.1 适用范围
本标准适用于航空材料和零部件Ｘ射线照相检验的质量控制。
1.2 内容
本标准对Ｘ射线照相检验中影响结果可靠性的主要因素规定了质量控制的要求。其内容包括环境条件、设备和仪器、检验用材料和象质计、工艺要求、技术文件及对人员的要求。
2环境条件
2.1 Ｘ射线机房
2.1.1 机房应满足GB4792-84《放射卫生防护基本标准》中有关防护方面的要求。其有效面积一般不得小于35平方米，对于小型设备可酌情减小,但应有足够的活动余地。透照场地应铺设厚度不小于3mm的铅板。
2.1.2 机房内不准堆放与检验无关的杂物。
2.1.3 应安装换风量不低于10次/h的通风设备。温度与湿度应控制在机器说明书所要求的范围内。
2.1.4 房内光照要柔和，透照场附近的照度不低于300 Lx。
2.2 暗室
2.2.1 暗室应由相互分开的“处理间”和“备片间”（兼作胶片贮存间）两部分组成。两室内均应有送风和排风设备，在送风装置进气口应安装静电除尘器，以保证室内清洁无尘。同时，还应安装空调设备，使室温保持在20±5℃。
2.2.2 “备片室”内湿度应控制在60%以下，以避免胶片受潮、发霉和变粘。工作台要保持清洁有序。
2.2.3 “处理间”应铺设水磨石或瓷砖地面。水槽要用瓷砖贴衬。墙壁应涂油漆。
2.3 评片室
2.3.1 每个射线照相检验部门应设专用评片室。室内光线要柔和，评片人员所在处的光照度以25Lx为宜。在此条件下，既可作记录、对底片进行分类及书写检验报告，又不使底片表面产生影响观察的反射光。
2.3.2 室内温度应控制在20±5℃，湿度不得高于75%，以避免底片在高温下受潮发粘。为此应安装空调设备。
2.3.3 室内应保持安静、无外来干扰，以保证评片人员精力集中。
2.4 底片干燥室或干燥柜
采用手工处理的部门，应设专用底片干燥室或干燥柜。为确保干燥室内有良好的通风和无灰尘，应安装送风和排风装置，送风装置进气口要配有静电除尘器。
2.5 底片贮存库
底片应贮存在通风良好、阴凉干燥的专用库房内。
3设备和仪器
3.1 Ｘ射线机
3.1.1 应根据待检材料和*大可能待检厚度及检验的质量要求选取适宜的Ｘ射线机。
3.1.2 当电源电压波动影响射线机正常工作时，应装稳压电源。
3.1.3 Ｘ射线机电压表、电流表应定期进行校验，校验结果记入设备使用情况记录本内。
3.2 评片设备
3.2.1 观片灯
评片室应配备适当数量的观片灯。穿过被评底片的亮度至少为30cd/平方米，*好能达到100cd/平方米。为了观察不同密度的底片，观片灯的亮度应满足下列*低要求：
密度为1.00时，亮度至少为300cd/平方米
密度为2.00时，亮度至少为3000cd/平方米
密度为3.00时，亮度至少为30000cd/平方米
密度为4.00时，亮度至少为300000cd/平方米
观片灯的观察面的亮度应均匀。强光观片灯的亮度及观察面积均应可调，并应具有良好的散热条件，使底片与其接触10min不致损坏。
3.2.2 密度计
3.2.2.1 每 个射线检验站应配备一台准确度为±0.05、*大可测密度为4.00的密度计，用于日常生产检验，称作“工作密度计”。必要时，工厂的射线检验技术指导部门配备一台准确度为±0.02、*大可测密度不低于4.00的密度计，用于对“工作密度计”进行检验，称作“校验密度计”。两种密度计均应附有相应等级的标准密度片。
3.2.2.2 校验用密度片每年送有关部门校验一次。“工作密度计”每半年用“校验密度计”校验一次。并将校验结果记入专用校验卡内。
3.2.3 放大镜
评片时可使用3-7倍放大镜。
3.3 剂量仪
射线检验技术指导部门应配备辐射剂量仪器。工作场所应配备辐射剂量报警器。上述仪器每年校验一次，并将结果记录在专用记录本内。
3.4 暗室设备
3.4.1 暗室中的**红灯应采用**电压和胶片生产厂推荐的**灯片。亮度要适当。其检查方法按HB/Z60-81《Ｘ射线检验说明书》第7.1.3条进行。其增加之净灰雾不得高于0.05。
3.4.2 定时装置
采用手工处理的暗室应配备定时钟或其它定时装置，以便准确地控制显、定影时间。
4检验用材料及像质计
4.1 胶片
4.1.1 根据检验对象及检验质量要求，参照下表选取适宜的胶片。
胶片选择参考表
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│ 性 能 │
质量等级 ├───┬───┬──┤ 适 用 范 围
│感光度│对比度│粒度│
─────┼───┼───┼──┼────────────────────
特级 │ *低 │ 很高 │很细│电子元件,低千伏时薄截面轻金属,塑料薄壁管
│ │ │ │及其它低吸收材料.
─────┼───┼───┼──┼────────────────────
1 │ 低 │ 很高 │ 细 │中等千伏时薄至中厚的轻金属,较高千伏时较
│ │ │ │厚的轻金属和薄的重金属.
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│ │ │ │中等厚度的轻金属,中至大厚度的重金属.特别
2 │ 中 │ 高 │ 中 │适用于γ射线、超高电压和电子加速器的射线
│ │ │ │检验.
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3 │ 快 │ 中 │ 粗 │采用γ射线和电子加速器对大厚度重金属及其
│ │ │ │它材料的铸件和焊接件的射线检验.
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4.1.2 胶片入厂后首先必须进行如下试验：
a. 底灰雾测量。其实测值不得高于胶片出厂标准。
b. 质量抽检。对于每个批号，至少应从任意两盒中各抽出一张胶片进行试透照。检查是否有气泡、白花、划伤、静电感光、发霉及涂布不均匀等缺陷。
通过上述检验，证明不影响检验质量时，方可投入生产使用。
C. 必要时可进行胶片感光特性测量。其方法可参照有关测量工业Ｘ射线胶片感光特性的专业标准。测得的感光度、平均梯度应与所测胶片的出厂指标相符。
4.1.3 用于检验铝、镁合金铸件、非金属材料等的胶片底灰雾不得高于0.2，对于其它材料不得高于0.3。因此，胶片投入使用之前必须事先测定其底灰雾。对于已开封的剩余胶片，每周需抽查一次底灰雾。
4.1.4 贮存中的胶片应避免光照、受压、过热、潮湿及一切有害气体，并远离辐射源。贮存室内温度应不高于25℃，相对湿度在50%-60%范围内。
4.1.5 应在符合3.4.1条要求的**红灯下开封、包装及进行暗室处理。
4.2 增感屏
4.2.1 检查重金属及厚大轻金属铸件、焊接件时，应采用铅箔屏（当管电压低于80kv时，可以不用）。铅箔屏厚度的选择应符合航标HB/Z 60-81的有关规定。
4.2.2 严禁使用破损、划伤、皱折、油污不洁的铅箔屏。使用时要保证与胶片紧贴。
4.2.3 当要求灵敏度等于或优于2%时，不宜使用荧光增感屏。
4.3 像质计（透度计）
应采用按GB5618-85中Ｒ'10系列或航标HB/Z60-81制造并经有关归口单位鉴定合格的像质计。根据订货方要求或经订货方同意也可使用其它形式的像质计。
4.4 处理溶液
暗室处理用的显影液、停影液和定影液*好按胶片生产厂推荐的配方配制。其化学药品的纯度不应低于化学纯。
5工艺要求
5.1 曝光曲线
对每台使用中的Ｘ射线机应事先按HB/Z 60-81 4.4条绘制出各种待检材料的曝光曲线。
5.2 零件准备
送检零件应符合HB/Z60-81 3.2、3.3和3.4条的规定。
5.3 识别号
应根据被透照零件的射线检验图表的规定放置铅制标识号，以便识别零件种类、零件号、透照部位等。且上述符号的影像必须出现在底片的相应位置上。
5.4 像质计的使用
5.4.1 对于大型零件，每透照一处部位均应放置像质计。而对于每一次可透照多个的小型零件，可仅在其中一个零件上放置。
在通常情况下，应将像质计放在射线管阴极一侧靠近边缘的零件表面上。丝型像质计的*细丝居于外侧。而采用阶梯孔型像质计应尽可能与射线束垂直放置。
当无法将像质计置于零件上表面时，可放在一块与受检材料及厚度均相同的试块上。试块的平面尺寸不得小于100mm x100mm。
5.4.2 对于焊接件，丝型像质计应成直角横跨在受检焊缝上。而阶梯孔型像质计应与焊缝平行置于母体金属上，与焊缝的间距约5mm。当焊缝余高超出母体金属厚度的10%时，应在像质计下放置补偿片。像质计的具体摆放位置应根据焊缝形式及透照方法而定。
a. 采用单壁透照（即射线源在外，胶片在内）时，像质计应置于焊缝受检区的端部。
b. 对于直径小于90mm的环形焊缝采用双壁双重投影法时，其位置应为受检区影像承受*大几何畸变和放大的部位。
C. 对于标称直径等于或大于90mm的环形焊缝采用双壁单投影法只检查胶片一侧的下部焊缝时，如像质计可放入内部时，则应放于受检部位的内表面上；如无法放入时，则可按下述两种方法的一种加以处理：
⑴ 将像质计放置在厚度等于下壁的试块上，并将另一块厚度等于上壁的试块置于像质计上面；
⑵ 将像质计放置在朝向胶片一侧的工件表面上，但必须通过对比试验，确定其与正常放置时的对应关系。
d. 当将射线源置于环形焊缝中心而进行360°全景曝光时，在其内壁应每隔90°放置一只像质计。
5.4.3 当受检区底片的密度变化超过像质计所在处密度的+30%或-15%时，应适当增加像质计的数量，以指明受检区整个厚度范围的灵敏度等级。
5.5 底片密度
底片*佳密度值为2.00。*低值不得低于1.50，*高值不得高于4.00。
5.6 屏蔽与补偿及滤波板的使用
对于形状复杂、截面变化较大的零件，应采取适当的屏蔽措施或补偿方法及滤波板，以消除散射线的有害影响，提高底片的影像质量。
5.7 暗室处理
5.7.1 暗室处理应按HB/Z60-81 7.2条的有关要求执行。
5.7.2 采用手工处理的暗室应备有“溶液使用登记薄”，其中记录下述项目:
a. 溶液配制量
b. 配制日期
C. 有效日期
d. 应处理胶片量
e. 已处理胶片量
当已处理胶片量达到应处理胶片量或已达到有效期时，一般应更新。如欲继续使用，必须按5.7.3条进行溶液有效性试验。
5.7.3 溶液有效试验
将工艺检验用标准试块（或阶梯试块）按标准曝光条件透照后，在待测溶液中按标准程序进行暗室处理。然后将其密度值与该试块的基准底片的密度值进行对比，如密度值变化超过±15%，则待测溶液不准再用。
5.8 灵敏度
5.8.1 采用丝型像质计时，铝及其合金和钢件的射线照相的影像质量应等于或优于2%，但截面厚度小于5mm时，应能发现0.10mm的金属丝。
5.8.2 当检验镁及其合金而使用铝丝像质计时，其灵敏度应符合HB/Z 60-81中表5的要求。
5.8.3 当检验钴基、镍基高温合金而使用钢丝像质计时，其灵敏度应符合HB/Z 60-81中表5的要求。
5.9 工艺检验
5.9.1 为了评价整个工艺过程，每个射线检验部门必须制备一块标准试块（或阶梯试块），用标准条件透照后，经标准手工或自动处理程序处理，所得到的底片则作为“基准底片”。
5.9.2 采用自动处理机的检验部门，每天在正式检验之前，对标准试块用标准条件透照后进行自动处理，然后将其底片与基准底片进行对比。如果密度值变化超过±15%，应停止生产检验，并对检验的各个环节进行检查，待排除故障后，方可重新进行生产检验。对于采用手工处理的检验部门，每周至少进行一次工艺检验。
5.10 底片的评定与报告
5.10.1 暗场适应时间
从明亮的阳光下进入评片室，至少需要10min的适应时间；而从一般光线的房间进入评片室，则需30s。在评定下一张底片前，仍需至少30s的适应时间。
5.10.2 评定与报告
应由Ⅱ级或Ⅲ级射线检验人员对底片进行评定，并签发检验结果报告。
5.11 检验后零件的处理
5.11.1 检验合格的零件，应在指定部位打上合格印记。对于不允许打印记的零件可采用其它的表示方法，如涂彩色漆等。
5.11.2 对于不合格的零件，应发出报告。对于允许补救的零件，要在该零件上标出缺陷的大小和准确位置。
6技术文件
6.1 Ｘ射线检验图表
6.1.1 对于每一种新的零件，首先应参照相应材料的曝光曲线选取*佳曝光条件，使底片的密度值符合本标准5.5条的要求。而灵敏度则应满足本标准5.8条的规定。并附有一套包括零件种类、零件号、透照部位序号等在内的标识号。*后将该套底片作为原始件存档备查。
6.1.2 图表格式可参考表1。也可根据产品特点自行设计，但其内容至少应包括表1所列的项目。
6.1.3 图表需经本专业Ⅲ级人员或工程师审校，经有关部门批准后生效。
6.2 检验记录（包括底片）
6.2.1 检验记录的格式可自行设计，但至少应包括下述内容：
a. 零件名称、图号、零件号
b. 底片数量及其编号
C. 底片密度、灵敏度
d. 合格/报废
e. 判废依据
f. 底片收藏号
g. 检验者、评片者、审核者
h. 其它认为必要的项目
6.2.2 检验记录和底片应编号保存，以便随时提供检查。保存期限按有关单位的要求规定。
6.3 校验记录
本标准所涉及的有关设备仪器、检验用材料的校验记录均应编号保存，以便随时提供检查。保存期限按有关单位的要求规定。
7.人员
7.1 从事射线检验的人员必须根据HB 5357-86《航空无损检测人员的资格鉴定》取得技术资格证书。
7.2 各级人员只能从事与自己技术等级相应的技术工作。
表1 Ｘ射线照相检验图表
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┃零件名称│ │零件编号│ │ 材料牌号 │ ┃
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┃零件分类│ │验收标准│ │X射线机型号│ ┃
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┃示意图或照片 ┃
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┃ ┃
┃ ┃
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┃ ┃
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┃ ┃
┃ ┃
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┃ ┃
┃ ┃
┃ ┃
┃ ┃
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┃部位│焦距│入射角│滤波板│胶片│胶片尺寸│增感屏│管电压│管电流│时间┃
┃序号│m │ │类 型│型号 │ cm │类 型│ kＶ │mＡ│min┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃ │ │ │ │ │ │ │ │ │ ┃
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┃制表者 │ │审校者│ │批准者│ │日期│ ┃
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附加说明:
本标准由六二一所提出并归口。
本标准由六二一所、一七二厂、一一二厂、四一０厂、四三０厂、一三二厂、
五七０三厂起草。
本标准主要起草人六二一所赵起良。
航空工业部1987-03-01发布 1987-05-01实施
