中华人民共和国专业标准
ZB H24 001--87
旋转磁场磁粉探伤方法
----------------------------------------------------------------------------
本标准提出了用交叉磁轭产生的旋转磁场对被检工件进行连续磁粉探伤时应遵守的一般规则。
本标准适用于探测铁磁性材料、工件及其焊缝的表面和近表面缺陷。
1方法概要
当采用交叉式磁轭对被检工件进行连续行走探伤时,工件被旋转磁场进行连续磁化,其表面和近表面缺陷都会产生漏磁通,从而吸引磁粉形成缺陷磁痕,在一次磁化探伤中可以同时检出各个方向上的缺陷。
2术语
2.1交叉磁轭:是由两个轭状的电磁铁以一定夹角进行空间交叉或平面交叉组合而成,并用不同相位的两相交流电激磁的磁化装置。
2.2跨越宽度:交叉磁轭两磁极内侧在垂直于行走方向上所能跨过的*大距离(见图1)。
2.3有效探伤宽度:在实际探伤条件下,在垂直于磁轭行走方向上能够达到所需探伤灵敏度的*大距离。
图1 交叉磁轭的跨越宽度
1--交叉磁轭的磁极 2--交叉磁轭的行走小轮 L1--被检焊缝的宽度 L2--跨越宽度
2.4其它术语应符合JB3111--82《无损检测名词术语》的规定。
3探伤人员资格
从事旋转磁场磁粉探伤的操作者应具有必要的专业知识和有关部门颁发的、并与其工作相适应的资格证书。
4设备
4.1交叉磁轭式的磁粉探伤仪
4.1.1激磁安匝数:一般不低于1300AT x2。
4.1.2磁极端面与被探伤面之间的间隙:交叉磁轭在被探工件表面上行走探伤时,四个磁极端面与探伤面之间必须保持一定的间隙,一般应不超过1.5mm。
4.1.3跨越宽度:一般不大于100mm。
4.2光源
4.2.1白光源:观察非荧光磁痕所需用的白光源,应保证在被检工件表面上有足够的亮度。
4.2.2黑光源:采用荧光磁粉探伤时,所需的黑光源应具有能通过波长为320--400nm的紫外辐射的滤光片,而且在被检工件表面上的黑光强度应不低于970lx。
5磁粉和磁悬液
5.1磁粉
5.1.1可使用荧光磁粉或非荧光磁粉。
5.1.2探伤用的磁粉应具有高导磁率和低剩磁的性质。
5.1.3磁性:用磁性称量法检验时,非荧光磁粉(空心球形磁粉除外)的磁性称量值应大于7g,荧光磁粉的磁性称量值可另行选择。
5.1.4粒度:应小于80μm。
5.2载液:水或煤油。
5.3磁悬液
5.3.1除磁粉制造厂另有规定外,荧光磁粉磁悬液浓度一般为0.5--2g/l;非荧光磁粉磁悬液浓度一般为7--20g/l。
5.3.2当使用水作载液时,磁悬液内应放入适量的分散剂、防锈剂和消泡剂。
6标准试片
一般使用A型或C型标准试片来检查探伤装置、磁粉、磁悬液的性能和探伤操作是否正确等。
6.1A型标准试片:应符合我国ZBJ04006--87《钢铁材料的磁粉探伤方法》中4.1条的规定。
6.2 C型标准试片:C型标准试片用于焊接坡口等狭小的部位,即因尺寸关系、使用A型标准试片有困难时,它可用来代替A型标准试片。这种试片必须经权威部门鉴定、认可。
6.2.1C型标准试片的材质与A型标准试片相同。
6.2.2C型标准试片的厚度为50μm。人工缺陷的深度为8±1μm、宽度为50±8μm。
6.2.3C型标准试片的形状和尺寸见图2。
6.2.4C型标准试片在使用时,沿分割线切成5mmｘ10mm的小片、并将有人工缺陷的一面贴紧探伤面。
6.3A型或C型标准试片的形状、尺寸发生变化后,不得继续使用。
图2 C型标准试片 单位mm
7探伤前的准备
7.1被探伤面的清理与处理
探伤前,应将被检部位进行清理。必要时需进行打磨或喷砂处理,除去影响探伤的油污、焊接飞溅、锈斑和松动的氧化皮等。
7.2综合探伤性能的检查
7.2.1根据探伤灵敏度的要求,首先将相应规格的A或C型标准试片贴在被检工件表面上。
7.2.2磁轭通电磁化并行走通过贴片部位,在实际探伤条件下进行探伤操作。
7.2.3观察试片的显示效果:试片背面人工缺陷的磁痕显示清晰、完整,方可确认探伤装置、磁粉、磁悬液性能和探伤操作等综合探伤性能符合探伤要求。
8探伤操作
8.1首先将交叉磁轭放在被清理好的被检工件上,然后通电磁化被检工件,并驱动(手动或机械拖动)交叉磁轭连续行走探伤。当大型工件进行分段磁化探伤时,相邻两磁化区域的有效探伤宽度至少应重迭25mm。
8.2磁悬液的喷洒是在磁化过程中同时进行的,磁悬液一般应均匀地喷洒在交叉磁轭的前方。
8.3磁轭的行走速度:要力求均匀,一般不大于0.05m/S。
8.4磁痕的观察
8.4.1磁痕的观察应在探伤后及时进行,观察磁痕用的光源应符合本标准4.2条的要求。
9缺陷磁痕的等级分类
缺陷磁痕的等级分类应按ZB J04 006--87标准中的第7章执行。
10检验报告
检验报告应包括下列内容:
10.1探伤对象:包括工件名称、材质、探伤部位和表面状态等。
10.2探伤条件
10.2.1探伤设备:名称、型号及制造厂。
10.2.2磁粉:类别(荧光或非荧光磁粉)、型号、粒度和色彩等。
10.2.3载液。
10.2.4磁悬液:配方和浓度。
10.2.5磁化规范:激磁安匝数。
10.2.6磁轭行走速度。
10.2.7探伤灵敏度:用A或C型标准试片的规格型号表示。
10.3探伤结果
10.3.1有无缺陷磁痕。
10.3.2缺陷磁痕的位置、形态、尺寸(被检工件表面上缺陷磁痕的显示长度)和缺陷磁痕的等级分类。
10.4探伤者姓名、资格等级及探伤日期等。
-------------------------
附加说明:
本标准由上海材料研究所提出并归口。
本标准由冶金工业部建筑研究总院负责起草。
本标准主要起草人:李玉桂 徐立勋
国家机械工业委员会批准 1988-01-01实施
